讲座信息

主题：台式XAFS/XES技术原理与应用案例分享

时间：2026.06.26 上午10:00～11:30

地点：华南师范大学大学城校区 分析测试中心 L2-222

讲座背景

在材料科学研究中，X射线吸收精细结构谱（XAFS）和X射线发射谱（XES）是重要的表征手段，能够提供材料的局域结构和电子态信息。传统上，这些测试需要在同步辐射装置上进行，存在机时紧张、预约困难等问题。

近年来，台式XAFS/XES仪器的发展为科研工作者提供了更加便捷的解决方案。本次讲座将介绍台式设备的技术特点和应用实践。

技术简介

XAFS技术

应用范围：表征材料的结构对称性、化学价态、原子间距离、配位数和无序度等

XES技术

应用范围：表征材料的化学价态、物种构成、配体类型等信息

技术特点：提供电子结构和化学环境的详细信息

主要应用领域

XAFS和XES技术已广泛应用于：

催化材料研究：表征催化剂活性中心的化学价态和局域结构，揭示催化反应机理

锂离子电池：研究电极材料在充放电过程中的结构演变和价态变化

有机金属化合物：分析金属-配体相互作用和电子转移过程

燃料电池催化剂：表征催化剂的活性位点和稳定性

重金属污染物形态分析：识别环境中重金属的存在形态和迁移转化规律

橡胶硫化机理研究：分析硫化过程中硫原子与橡胶分子的键合状态和交联结构

讲座安排

主讲嘉宾：东方谱学-安徽吸收谱公司资深专家 钟建斌

讲座内容：

1. 台式XAFS/XES设备的技术原理
2. 典型应用案例分享
3. 现场答疑交流

主办单位：华南师范大学分析测试中心

             广州木星科学仪器有限公司

             安徽吸收谱仪器设备有限公司