2K-400K
从300K降至2K稳定约1h
±0.1% for T<20K (典型值);±0.02% for T>20K (典型值)
连续低温控制和温度扫描模式
±90000Oe
0.1-180Oe/s
振动样品磁强计选件(VSM)
直流电输运选件(DC Resistivity)
灵敏度:<10-6emu(1秒钟数据平均)
噪音基:2´10-7emu rms
精确度:<5´10-6emu/Tesla
测试:M-T(zfc and fc),M-H
样品制备:具有黄铜和石英两种样品固定板,样品大小<2*2 mm2
电流范围:2nA-8mA
最高电压:95mV
电压灵敏度:20nV
电阻测量范围:4mW-5MW
测量精度:0.01%(典型值)
测试:R-T,R-H,I-V,hall
样品制备:该选件采用样品托专利技术,用标准的四引线法测量样品的直流电阻率,每次可同时测量3个样品。
样品大小<10*10 mm2
测量灵敏度:10nJ/K @2K
测量精度:<5% @2K-300K(典型值<2%)
测试:Cp-T
样品尺寸:1mg-500mg(典型值20mg)
测试接外接仪器E4980A,频率范围20Hz-2MHz,在高低阻抗下进行测量,均可实现卓越的测量可重复性和0.05%的基本测量精度。此外,可以测量外加磁场条件下的磁介电。
测试:e-T,e-H
磁场范围:±90000Oe
样品尺寸:<10*10mm2,厚度0.2-1 mm
测试接外接仪器Keithley 6430源表,记录极化电流的变化,测量精度可达0.1pA,从而获得电极化性能。此外,可以测量外加磁场下的热释电流/电极化性能。
测试:I/P-T,P-H
样品尺寸:<10*10 mm2,厚度0.2-1 mm
测试在VSM基础上接外接仪器Keithley 6430源表,提供最大电压200V,以实现电场E对磁性M的调控。
测试:Pulse E-M,Linear E-M
样品尺寸:<2*2mm2,厚度0.1-0.2 mm