200kV透射电子显微镜 (设备编号:14UC0052)

中文名称
200kV透射电子显微镜
型号规格
JEM-2100HR
生产厂家
日本电子
启用日期
2011-04-23
所属单位
分析测试中心电镜室
仪器负责人
余老师 测试咨询
安装地点
大学城校区理5栋111室
联系方式
电子枪

LaB6(六硼化镧)

点分辨率

0.23 nm

线分辨率

0.14 nm 

加速电压

100~200kV

束斑尺寸

1.0-25 nm

放大倍数

高倍:2000~1,500,000 低倍:50~6,000

功能模式

TEM/ EDS/NBD/CBD/CBED

X射线能谱分析

 固体角:0.13str 取出角:25°

能谱分辨率

优于133 eV(MnKα)

主要附件

牛津仪器IET250能谱仪、美国Gatan公司832 CCD相机

样品杆

单倾样品杆、双倾样品杆、铍双倾样品杆

其 它

Quorum K850临界点干燥仪、JEMS软件包等

功能及特点

    可广泛应用于化学、物理学、地质学、生物学、医学等领域的科研和教学。能对金属、矿物、半导体、陶瓷、纳米材料等固体材料的显微形貌、晶体结构、化学成份、界面结构、表面以及缺陷等进行观察分析。

对样品的要求
  •     1、粉末样品:为避免粉末脱落污染电镜,粒径需小于1um,请先在显微镜下观察确认。大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察;
  •     2、薄膜样品:厚度一般需小于50nm,因材料而异;
  •     3、其它类样品须自行制样处理;校内测试一般不接受委托制样,但可提供制样指导。使用水分散的粉末样品请提前一天制样并在干燥箱中干燥保存。
  •     4、拒绝接受磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准及不耐电子束轰击类样品、以及易被电磁透镜吸引的粉末样品。
磁性样品的危害

Jem-2100HR 透射电镜是一台高分辨透射电镜,如果所测样品为磁性材料,磁性材料会影响物镜极靴磁场特性的变化,进而降低电镜的分辨本领。如果磁性材料为纳米颗粒,则对物镜极靴影响更为严重,磁性颗粒很容易吸附到物镜上,污染镜筒光路,造成电镜不可修复性损伤。

QQ群(校内)

175663035 (添加请注明学院、年级、导师、姓名等信息)

QQ群(校外)

483475260

序号 仪器测试收费项目 费用类别 单位 校内收费标准 校外收费标准 备注