场发射透射电子显微镜 (设备编号：S1900279)

实验预约
中文名称
场发射透射电子显微镜
型号规格
FEI Talos F200X
生产厂家
FEI
启用日期
2018-09-01
所属单位
化学学院
仪器负责人
曾老师 测试咨询
安装地点
大学城校区理2栋115室
联系方式
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电子枪

热场发射

加速电压

200 kV

TEM点分辨率

0.25 nm

线分辨率

0.14 nm

信息分辨率

0.12 nm

STEM分辨率

0.16 nm

放大倍数

25~1500000 (TEM), 150~2300000 (STEM)

EDS分辨率

136 eV

主要配置

CCD数字成像系统，X射线能谱仪（EDS），扫描透射（STEM），高角环形暗场探测器（HAADF）

特色及用途
  • 该仪器具有衍衬成像、高分辨成像、Z衬度成像、电子衍射、能谱分析和三维重构等多种功能，属于分析型透射电子显微镜，可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。
  • 该仪器采用场发射电子枪，具有较高的分辨率，特别适用于高分辨电子显微分析。
  • 同时该仪器该配备Super-X EDS能谱仪系统，4个SDD探头，有效探测器面积达120 mm²，能量分辨率为136 eV，能快速进行STEM和EDX的二维和三维成分、图像采集，实现多维快速化学分析。
  • 样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品，以及各种形状的纳米材料等。
样品要求

不测磁性样品！

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