高角环形暗场探头(HAADF)以及16分割Panther STEM探头，可同时采集4x幅来自不同角度的电子信号，明场(BF)，环形明场(ABF)，环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)的图像以及iDPC图像

配备四探头Super-X EDS能谱仪，4 SDD 对称、无窗设计、遮板保护有效探测器面积：120 mm²

三维重构采集与分析系统

Fischione 2550

• 等离子体清洗仪IC150，通过RF射频电源将空气离化后产生的氧活性自由基、 臭氧及氧等离子体等强氧化粒子与样品表面有机污染物发生化学反应，生成 CO₂ 和 H₂O 等气体并被真空泵组抽出，最终实现样品杆或样品表面有机污染物清洗之目的。

• 需要拍摄高倍stem以及一些较容易积碳的样品，建议可先进行等离子清洗后再上机。

Talos F200X是一款高性能冷场场发射透射电镜，具备原子级分辨率，支持TEM、STEM、EDS等多种模式，适用于材料科学、化学、生物学及半导体等领域。其高亮度电子束和低剂量技术适合敏感样品分析，四探头Super-X能谱仪可精准检测元素分布（Be-U）。

• 1、粉末样品：为避免粉末脱落污染电镜，粒径需小于1um，请先在显微镜下观察确认。大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察；

• 2、薄膜样品：厚度一般需小于50nm，因材料而异；

• 3、其它类样品须自行制样处理；校内测试一般不接受委托制样，但可提供制样指导。使用水分散的粉末样品请提前一天制样并在干燥箱中干燥保存。

• 4、拒绝接受强磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准及不耐电子束轰击类样品、以及易被电磁透镜吸引的粉末样品。

• 磁性颗粒很容易吸附到物镜上，污染镜筒光路，造成电镜不可修复性损伤。禁止此类样品本机测试！

• 具有磁畴的薄膜材料通过FIB制样后可以在洛伦兹模式下观察。